TEM小室的三種常規檢查方法分享

　　隨著電磁兼容檢測技術的發展和提高，人們正針對不同的電子電器產品尋求更為簡單便捷的檢測方法，尤其對于小型的電子產品，如：電動玩具、集成電路(PCB板)、汽車電子零部件等。

　　TEM小室的測量主要是由測試場地和測試儀器組成，常規的檢測方法有屏蔽室法、開闊場法、電波暗室法等：

　　1、屏蔽室：在EMC測試中，屏蔽室能提供環境電平低而恒定的電磁環境，它為測量精度的提高，測量的可靠性和重復性的改善帶來了較大的潛力。但是由于被測設備在屏蔽室中產生的干擾信號通過屏蔽室的六個面產生無規則的漫反射，特別是在輻射發射測量和輻射敏感度測量中表現更嚴重，導致在屏蔽室內形成駐波而產生較大的測量誤差。

　　2、開闊場：根據標準要求通常測試場地成橢圓形，長軸是焦距的兩倍，短軸是焦距的倍，發射與接收天線分別置橢圓的兩個焦點上。兩個焦點的距離即是所要求的測量距離，根據現有標準可分為3米、10米和30米。我國現有標準大多數規定3米法測量，美國的FCC標準、英國的VDE標準要求10米法測量。開闊場一般選擇遠離市區、電磁環境較好的地方建造，但這給建造、試驗、生活管理等帶來了諸多不便，并且維修維護成本較高。

　　3、電波暗室：通常所說的電波暗室在結構上大都由屏蔽室和吸波材料兩部分組成。在工程應用中又分全電波暗室(fullyanechoicchamber)(六面裝有吸波材料)和半電波暗室(semianechoicchamber)(地面為金屬反射面)。全電波暗室可充當標準天線的校準場地，半電波暗室可作為EMC試驗場地。電波暗室的主要性能指標有“靜區”、“工作頻率范圍”等六個(靜區是指射頻吸波室內受反射干擾弱的區域)。

　　希望上述內容能夠幫助大家更好的了解本產品。